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2018.12.10
第35回イオンクロマトグラフィー討論会開催(12月6日~7日):東京都立産業技術研究センター

イオンクロマトグラフ(IC)を用いた研究成果の発表の場である年次討論会が、東京都立産業技術研究センター内で開催されました。
燃焼IC(CIC)システム開発者であるナックテクノサービスの長嶋先生は、多元素含有標準試料の活用という内容での講演(抄録ページ)を行いました。この標準試料は都立産技研との共同合成開発であり、特許を有しております。
その他、IC装置のユーザー側とメーカー側からの講演もあり、実際分析測定におけるポイントや注意点などの情報が有意義に交換される場となっておりました。

初日夕刻には情報交換会という名目での催しがあり、ビンゴゲームなどで和気藹々の中、相互親睦を深めることができました。


翌日はICユーザー、メーカー、学生らによるポスターセッション及び口頭発表があり、最優秀の学生が表彰されました。
おおよそ70名の参加者でしたが、IC分析に関わる研究者らの熱意が伝わってきた2日間でした。
当社としては、特にハロゲン・硫黄同時分析システムとしての燃焼ICシステムを中心として、今後とも鋭意紹介していきたいと思っております。


展示ブース:ナックテクノサービス、EAIジャパン